阵列检测型近红外光谱仪
在20世纪90年代，随着半导体制造技术的发展，出现了新的一代阵列检测器产品。此类产品的应用就出现了一种新型近红外光谱仪，即雨泽仪器小编要介绍的阵列检测型近红外光谱仪。我们已经了解了光栅波长扫描型近红外光谱仪的构造，影响其扫描速度、抗干扰性和信噪比的关键因素是机械扫描系统和狭缝的结构设计，所有这些问题再阵列检测型仪器结构设计中都得到了解决。
阵列检测型近红外光谱仪在结构上有平面光栅和凹面光栅之分，从狭缝或光线进入单色器的光束，在照射光栅之前使用一块凹面镜进行准直，从光栅射出的光栅光谱使用另一块凹面镜会聚，将光栅光谱聚焦到焦平面上，阵列检测器像元防止自此焦平面上。
这类仪器与光栅波长扫描型相比，没有移动部件，提高了测量精度，抗干扰性好，扫描速度很快，但也有局限，由于没有出射狭缝，光栅光谱整体照射到检测器上，杂散光影响增加，阵列检测器像素受几何限制，又没有光电扩增功能，一般阵列检测型仪器的灵敏度略低，分辨率不仅取决于狭缝和光栅，也与检测器尺寸有关。总之分辨率和精度稍逊与光栅扫描型仪器。
阵列检测型近红外光谱仪结构简单、容易制作、光学元件少，常用于便携仪器，体积可以做的很小，这类产品种类很多。阵列检测型红外光谱仪器能满足近红外光谱分析的要求也并非想象的那么容易，难点之一是波长的校准，因为能够用于近红外光谱波段区间波长校正的材料较少，在该区，一般材料吸收谱带数目少，谱峰很宽。难点之二是温度对这类仪器波长位移影响很明显，尽管无移动部件，对操作环境要求很高，不易实现仪器之间光谱的一致性，不利于模型传递，所以在众多红外光谱仪器中，用户在选购这类仪器用于近红外分析时，要特别注意对这些性能的考虑。
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