SHIMADZU岛津X射线衍射仪 XRD-7000

X射线衍射分析方法可实现无损的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰强度,衍射峰线形等信息可以进行材料晶体结构的表征,如:点阵常数的精密测定,晶粒尺寸和微观应变计算,宏观残余应力测定,结晶度计算等;X射线衍射分析方法是材料微观结构表征最常规和最有效的方法之一

易操作、多功能、多用途的X射线衍射仪的新时代！

Ｘ射线衍射仪可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。 
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密Ｘ射线结构解析等各种分析。

配备具有0.0001°最小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的，可以选择适合分析大型样品的Ｌ型（最大350mmφ样品）和通用的S型。

高精度样品水平型测角仪S 配备具有0.0001°最小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的，可以选择适合分析大型样品的Ｌ型（最大350mmφ样品）和通用的S型。

· XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪，能够测定超大型样品。

· 不但可进行定性/定量等基本分析，还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件，还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。 

· 利用新开发的大型R-θ样品台，可以进行最大350mmφ样品全表面的自动应力成图测定